วันศุกร์ที่ 7 มกราคม พ.ศ. 2565

AI เพิ่มความสามารถของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

electron-microscope
ภาพจาก Argonne National Laboratory

Charudatta Phatak, Tao Zhou, and Mathew Cherukara จาก Argonne National Laboratory ของกระทรวงพลังงานสหรัฐ ได้พัฒนาเทคนิคปัญญาประดิษฐ์ (artificial intelligence) หรือ AI เพื่อเพิ่มความละเอียดและความไวของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน 

นักวิจัยเสนอให้ใช้อัลกอริธึมการฝึกอบรมโครงข่ายประสาทเชิงลึกเพื่อดึงข้อมูลสำคัญที่เก็บไว้ในคลื่นอิเล็กตรอนหรือเฟส วิธีการนี้ยังช่วยให้นักวิทยาศาสตร์สามารถดึงข้อมูลที่สำคัญเกี่ยวกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ตลอดจนกู้คืนการเปลี่ยนแปลงเฟสเล็ก ๆ เพื่อรับข้อมูลเกี่ยวกับการเปลี่ยนแปลงเล็ก ๆ น้อย ๆ ในการทำให้เป็นแม่เหล็กและศักย์ไฟฟ้าสถิต 

Zhou กล่าวว่า "ความจริงที่ว่าเราไม่จำเป็นต้องเพิ่มอุปกรณ์ใหม่ใด ๆ เพื่อใช้ประโยชน์จากความสามารถนี้ ถือเป็นข้อได้เปรียบอย่างมากจากมุมมองของนักทดลอง"

อ่านข่าวเต็มได้ที่: Argonne National Laboratory

ไม่มีความคิดเห็น:

แสดงความคิดเห็น